DEI離散輸入評(píng)估板:航空電子與高壓信號(hào)采集的可靠測(cè)試平臺(tái)
發(fā)布時(shí)間:2025-08-21 08:41:53 瀏覽:2767
在航空電子、工業(yè)自動(dòng)化及高可靠性系統(tǒng)中,離散信號(hào)(如開關(guān)狀態(tài)、傳感器信號(hào))的準(zhǔn)確采集與數(shù)字化處理至關(guān)重要。為滿足這一需求,Device Engineering Incorporated (DEI)推出了DEI128x系列離散輸入評(píng)估板,專門用于測(cè)試和驗(yàn)證其高性能離散輸入集成電路(IC)。該評(píng)估板兼容多種DEI IC型號(hào),支持高壓環(huán)境下的信號(hào)采集、抗干擾測(cè)試及靈活配置,是工程師開發(fā)高可靠性系統(tǒng)的理想工具。
產(chǎn)品目的
用途:測(cè)試和評(píng)估DEI公司多種離散輸入接口芯片(Discrete Input ICs)。
兼容性:新IC設(shè)計(jì)盡可能保持引腳兼容(如DEI1282與DEI1284)。
支持評(píng)估的芯片列表
型號(hào) | 功能描述 |
DEI1026A | 6通道,檢測(cè)OPEN/GND,符合ABD0100標(biāo)準(zhǔn)。 |
DEI1054 | 6通道,檢測(cè)28V/OPEN。 |
DEI1066 | 8通道,GND/OPEN檢測(cè),SPI輸出,符合ABD0100。 |
DEI1067 | 8通道,GND/OPEN檢測(cè),SPI輸出,符合ARINC 735A和ABD0100。 |
DEI1160 | 8通道,可編程檢測(cè)GND/OPEN或28V/OPEN,SPI接口。 |
DEI1166 | 8通道,GND/OPEN檢測(cè),并行輸出,5V-18V供電。 |
DEI1167 | 8通道,GND/OPEN檢測(cè),并行輸出,固定12V供電。 |
DEI1184 | 8通道,可編程檢測(cè),符合ABD0100H高壓保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。 |
DEI1188 | 8通道,GND/OPEN檢測(cè),SPI接口,符合ABD0100H閾值和遲滯要求。 |
DEI1198 | 8通道,GND/OPEN檢測(cè),并行三態(tài)總線輸出,高防雷擊瞬態(tài)抗擾度(需外接電阻/TVS)。 |
DEI1282/1284 | 8通道,可配置為GND/OPEN或28V/OPEN,SPI接口,內(nèi)置自檢(BIT)。1284需外接3kΩ電阻和TVS以實(shí)現(xiàn)Level 4/5防雷擊保護(hù)。 |
評(píng)估板功能
測(cè)試接口:
通過跳線(H1-H13)輸入/監(jiān)測(cè)信號(hào),支持USBee AX?測(cè)試工具。
Vin(H1/H2)可外接電源,動(dòng)態(tài)調(diào)整輸入閾值。
保護(hù)電路:
電阻(R1-R15)可短路用于直接信號(hào)注入,或串聯(lián)/TVS用于高壓測(cè)試。
TVS器件(D1-D16)支持防雷擊(如Level 3-5)。
驅(qū)動(dòng)與開關(guān):
ULN2803驅(qū)動(dòng)器(U7/U8)提供GND/OPEN信號(hào)和FET(Q1-Q16)的柵極驅(qū)動(dòng)。
FET開關(guān)支持±20V柵源電壓和60V漏源電壓,適用于28V/OPEN模式。
擴(kuò)展功能:
支持DEI1282/1284的級(jí)聯(lián)(通過J1/J2)。
應(yīng)用場(chǎng)景
航空電子:驗(yàn)證飛控系統(tǒng)的28V/OPEN或GND/OPEN離散信號(hào)接口。
工業(yè)控制:測(cè)試PLC或傳感器的高壓開關(guān)信號(hào)兼容性。
研發(fā)調(diào)試:通過USBee AX?工具實(shí)時(shí)捕獲SPI/并行數(shù)據(jù),加速故障診斷。
深圳市立維創(chuàng)展科技有限公司,優(yōu)勢(shì)提供DEI高端芯片訂貨渠道,部分備有現(xiàn)貨庫(kù)存。
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